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2026ˉ5工程師日記 | 解決XRF光譜儀測試樣品轉(zhuǎn)盤警報的問題
客戶反饋客戶反饋XRF光譜儀初始化動作異常，轉(zhuǎn)盤復(fù)位異常。01儀器類型EA1000AIII臺式X射線熒光光譜儀02應(yīng)用背景知識EA1000AIII臺式X射線熒光光譜儀用于RoHS有害物質(zhì)的分析判定。020
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2026ˉ1日立高新技術(shù)推出FOUNDRY-MASTER Smart 2，提升固定式直讀光譜儀的性能與價值
助力制造業(yè)將高精度分析儀器轉(zhuǎn)化為數(shù)字化資產(chǎn)，推動基于Lumada的數(shù)字化服務(wù)?兼顧價值、易用性與長期可靠性，同時保持令用戶信賴的性能?全新科學(xué)級CMOS傳感器與超穩(wěn)定火花光源能夠在用戶現(xiàn)場實現(xiàn)科學(xué)實驗27
2026ˉ5TA FAQs【17】| DMA測試時，測量頻率該如何制定？
關(guān)注我們，解答更多熱分析問題在您的儀器使用過程中一定會遇到許多使用和維護的疑惑我們在這里幫您助力使用您的儀器盡在FAQsDMA測試時，測量頻率該如何制定？在動態(tài)粘彈性測量（DMA）中，頻率是指試樣周期性變形時，每秒期間重復(fù)的周期數(shù)。如果每秒期間1個周期的正弦波15
2026ˉ52026年同步熱分析儀型號推薦：日立STA200 & STA300，精準熱分析的高性價比之選
在材料研發(fā)與質(zhì)量控制領(lǐng)域，同步熱分析儀（STA）已成為核心工具。日立分析儀器（上海）有限公司憑借其深厚的技術(shù)積淀，推出的STA200和STA300兩款同步熱分析儀，以靈敏度、穩(wěn)定的性能和人性化的設(shè)計，成為2026年市場上具競爭力的高性價比機型。無論您是深耕學(xué)術(shù)15
2026ˉ5應(yīng)用報告 | 差示掃描量熱法（DSC）用于測量聚合物在等溫狀態(tài)下的結(jié)晶過程
前言_差示掃描量熱法（DSC）可用于測量聚合物在等溫狀態(tài)下的結(jié)晶過程。這種測量稱為等溫結(jié)晶測量，通過結(jié)晶過程的DSC曲線可對結(jié)晶速率，結(jié)晶構(gòu)造等進行分析。DSC的等溫結(jié)晶測量被用于研究高分子材料成型工藝中最佳冷卻速率和溫度等成型條件。此外，由于結(jié)晶性高分子的結(jié)14
2026ˉ5TA FAQs【16】| 如何校正熱分析恒溫測量時，試樣溫度會偏離設(shè)定溫度的問題
在您的儀器使用過程中一定會遇到許多使用和維護的疑惑我們在這里幫您助力使用您的儀器盡在FAQs熱分析設(shè)備恒溫測量時，試樣溫度會偏離設(shè)定溫度。有什么校正方法嗎？在熱分析設(shè)備的電腦測量界面以及測量儀器的LCD屏幕上，會顯示以下3個溫度。測量開始后，熱分析軟件中設(shè)定的14
2026ˉ5工程師日記 | 解決測厚儀自動校正顯示數(shù)值異常的問題
客戶反饋客戶反饋自動校正顯示數(shù)值異常。01儀器類型XRF鍍層測厚儀FT110A02應(yīng)用背景知識以熒光X射線原理對電鍍膜等表面處理薄膜的厚度進行非破壞性的測試。03現(xiàn)場服務(wù)方案日立工程師抵達客戶處后發(fā)現(xiàn)現(xiàn)場灰塵較多，開機暖機初始化正常完成后，X射線自動校正階段數(shù)14
2026ˉ5TA FAQs【15】| DSC測試時，參比物應(yīng)該選擇什么物質(zhì)，以及應(yīng)該放多少量？
在您的儀器使用過程中一定會遇到許多使用和維護的疑惑我們在這里幫您助力使用您的儀器盡在FAQsDSC測試時，參比物應(yīng)該選擇什么物質(zhì)，以及應(yīng)該放多少量？DSC測量時，需將熱容與試樣相當(dāng)?shù)奈镔|(zhì)作為參比物置于參比物側(cè)的傳感器上（圖1）。此外，試樣側(cè)和參比物側(cè)使用同種坩12
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2026ˉ5日立UH4150紫外分光光度計：寬譜高速 精準表征固體與薄膜
當(dāng)分析對象的邊界從傳統(tǒng)的紫外-可見區(qū)，拓展至包含近紅外的廣闊光譜疆域時，挑戰(zhàn)便以指數(shù)級增長：如何在跨越上千納米的波長范圍內(nèi)，同時實現(xiàn)低雜散光、高精度與高測量通量？日立UH4150紫外/可見/近紅外分光光度計，正是為應(yīng)對此類高端材料與能源研究中的復(fù)雜表征需求而打請輸入賬號
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