一、產(chǎn)品概述
徠卡偏光顯微鏡是德國(guó)光學(xué)儀器制造商Leica Microsystems研發(fā)的研究級(jí)手動(dòng)專(zhuān)業(yè)偏光檢測(cè)設(shè)備，依托成熟的偏振光學(xué)原理，專(zhuān)為各類(lèi)具備雙折射特性的材料觀測(cè)與分析量身打造。設(shè)備區(qū)別于普通光學(xué)顯微鏡，可穿透樣品表層，精準(zhǔn)揭示材料內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)、應(yīng)力分布、各向異性特征與微觀排布狀態(tài)，輸出精準(zhǔn)、詳實(shí)、可量化的微觀檢測(cè)信息，是材料科研、地質(zhì)研究、工業(yè)質(zhì)控領(lǐng)域的核心光學(xué)設(shè)備。
設(shè)備基于精密偏振光學(xué)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，通過(guò)起偏器與檢偏器的精準(zhǔn)配合，搭配勃氏鏡、刻度旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)、補(bǔ)償器、可調(diào)波長(zhǎng)濾片等專(zhuān)業(yè)配件，可精準(zhǔn)測(cè)定礦物光性方位角、干涉色級(jí)、材料應(yīng)力雙折射、分子鏈排布等核心參數(shù)。整機(jī)采用模塊化架構(gòu)設(shè)計(jì)，支持透射、透反射雙模式配置，光路性能優(yōu)異、成像對(duì)比度高、色彩還原精準(zhǔn)，可廣泛適配巖石礦物、玻璃陶瓷、高分子塑料、纖維織物、液晶電子、醫(yī)藥燃料等多類(lèi)樣品的觀測(cè)與檢測(cè)工作，高效完成科研試驗(yàn)與工業(yè)質(zhì)量管控任務(wù)。
二、核心工作原理
徠卡偏光顯微鏡以偏振光光學(xué)原理為核心，實(shí)現(xiàn)各向異性材料的微觀結(jié)構(gòu)精準(zhǔn)解析。設(shè)備通過(guò)下偏光鏡將自然光轉(zhuǎn)化為單一方向的線偏振光，均勻穿透被測(cè)樣品；由于雙折射材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)、應(yīng)力分布不均勻，偏振光穿透后會(huì)產(chǎn)生光程差與偏振方向偏轉(zhuǎn)。
穿透樣品的光線進(jìn)入上部檢偏器，通過(guò)精準(zhǔn)調(diào)節(jié)檢偏器角度，捕捉不同方向的光強(qiáng)變化與干涉色差，清晰呈現(xiàn)樣品內(nèi)部晶體形態(tài)、應(yīng)力集中區(qū)域、結(jié)構(gòu)缺陷、分子排布特征。搭配勃氏鏡可實(shí)現(xiàn)錐光觀測(cè)，精準(zhǔn)判定礦物光性、干涉色級(jí)序；配合刻度旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)與補(bǔ)償器，可完成各類(lèi)偏振參數(shù)定量分析，結(jié)合圖像采集與軟件分析，實(shí)現(xiàn)微觀結(jié)構(gòu)可視化、數(shù)據(jù)化解析。
三、設(shè)備核心結(jié)構(gòu)與光學(xué)配置
1. 專(zhuān)業(yè)偏振光學(xué)系統(tǒng)
搭載徠卡專(zhuān)屬精密偏振光路系統(tǒng)，機(jī)身預(yù)留多組偏光鏡片專(zhuān)用安裝位置，光學(xué)結(jié)構(gòu)協(xié)調(diào)統(tǒng)一、光路穩(wěn)定無(wú)偏差，保障偏振觀測(cè)的專(zhuān)業(yè)性與精準(zhǔn)度，杜絕雜光干擾，成像干涉紋理清晰、層次分明。
2. 五孔位專(zhuān)業(yè)物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)
配備5孔位手動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)盤(pán)，適配25mm直徑偏光專(zhuān)用物鏡，可快速切換不同倍率觀測(cè)，精準(zhǔn)捕捉樣品微觀細(xì)節(jié)，全面采集樣品結(jié)構(gòu)信息，觀測(cè)范圍廣、精度高。
3. 大視野光路設(shè)計(jì)
整體光路支持25mm視野直徑，同時(shí)支持22mm視場(chǎng)全域預(yù)覽，可實(shí)現(xiàn)大視野樣品整體觀測(cè)，兼顧全局概覽與微觀細(xì)節(jié)放大，觀測(cè)效率大幅提升。
4. 雙模式照明系統(tǒng)
機(jī)身內(nèi)置長(zhǎng)壽命、高亮度、恒定色溫的透、反射專(zhuān)用照明電源，支持手動(dòng)無(wú)級(jí)調(diào)節(jié)光強(qiáng)。透、反射光路亮度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)100W鹵素?zé)粝?，光線均勻穩(wěn)定、色溫恒定，有效保障偏振干涉成像效果，避免光照偏差影響檢測(cè)結(jié)果。
5. 多模式觀測(cè)光路
反射光支持明場(chǎng)、偏光、斜照明、干涉四種觀測(cè)模式；透射光支持明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、干涉、錐光五種觀測(cè)模式，可根據(jù)不同樣品材質(zhì)與檢測(cè)需求自由切換，適配性較強(qiáng)。
6. UC-3D照明對(duì)比度技術(shù)
搭載入射光UC-3D照明技術(shù)，可大幅提升樣品微觀結(jié)構(gòu)對(duì)比度，細(xì)微缺陷、應(yīng)力紋理、結(jié)構(gòu)邊界清晰凸顯，成像質(zhì)感優(yōu)異。
四、核心產(chǎn)品特點(diǎn)
1. 研究級(jí)專(zhuān)業(yè)性能，適配科研質(zhì)控
作為全手動(dòng)研究級(jí)偏光顯微鏡，專(zhuān)業(yè)適配巖石薄片、陶瓷玻璃、高分子材料、塑料薄膜、纖維織物等樣品的高階偏光特性分析，檢測(cè)精度、成像效果對(duì)標(biāo)科研設(shè)備。
2. 模塊化靈活拓展，一機(jī)多用
整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì)，可自由切換透射配置、透反射配置，同時(shí)支持豐富配件拓展，可對(duì)接攝像頭、數(shù)碼相機(jī)等圖像采集設(shè)備，實(shí)現(xiàn)圖像存儲(chǔ)、可視化分析；可搭配冷熱臺(tái)、陰極發(fā)光儀、光度計(jì)、熒光配件等外設(shè)，滿足多元化試驗(yàn)需求。
3. 精準(zhǔn)定量分析能力
搭配刻度旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)、專(zhuān)業(yè)補(bǔ)償器與濾片，可精準(zhǔn)完成礦物光性判定、干涉色級(jí)測(cè)定、材料應(yīng)力雙折射量化分析，支持各類(lèi)偏光參數(shù)精準(zhǔn)測(cè)算。
4. 成像效果優(yōu)異，細(xì)節(jié)表現(xiàn)力強(qiáng)
依托高對(duì)比度干涉成像技術(shù)，可清晰呈現(xiàn)材料內(nèi)部應(yīng)力條紋、晶體結(jié)構(gòu)、微觀缺陷，搭配軟件可實(shí)現(xiàn)偽彩增強(qiáng)與三維重建，直觀解析復(fù)雜微觀結(jié)構(gòu)。
5. 操作穩(wěn)定靈活，性?xún)r(jià)比突出
設(shè)備摒棄全自動(dòng)結(jié)構(gòu)的同時(shí)，保留媲美Leica DM4P的靈活操作性能，手動(dòng)調(diào)節(jié)精準(zhǔn)可控、穩(wěn)定性強(qiáng)，適配精細(xì)化科研試驗(yàn)與常態(tài)化質(zhì)檢工作，兼顧性能與實(shí)用性。
6. 無(wú)損檢測(cè)，適配多類(lèi)樣品
采用光學(xué)非接觸式檢測(cè)方式，無(wú)需制樣損傷，可完整保留樣品原始結(jié)構(gòu)，適配精密、易碎、高價(jià)值樣品的反復(fù)觀測(cè)分析。
五、核心應(yīng)用領(lǐng)域
1. 地球科學(xué)領(lǐng)域
廣泛應(yīng)用于地質(zhì)學(xué)、巖石學(xué)、礦物學(xué)研究，可精準(zhǔn)完成晶體結(jié)構(gòu)表征、礦物薄片鑒定、石棉成分分析、煤樣鏡質(zhì)體反射率檢測(cè)等試驗(yàn)，是地質(zhì)科研、礦產(chǎn)分析的核心設(shè)備。
2. 工業(yè)質(zhì)量管控領(lǐng)域
適用于玻璃制品應(yīng)力雙折射檢測(cè)、內(nèi)部夾雜物缺陷分析；塑料、聚合物材料的分子取向度、應(yīng)力分布檢測(cè)；紡織品、纖維織物微觀結(jié)構(gòu)觀測(cè)；液晶顯示器、電子元器件的排列缺陷、微觀瑕疵檢測(cè)，為工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量?jī)?yōu)化、工藝整改提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支撐。
3. 新材料與科研領(lǐng)域
可用于高分子材料分子鏈排布研究、復(fù)合材料各向異性分析、藥物晶體結(jié)構(gòu)檢測(cè)、燃料與粘接劑微觀特性分析，助力新材料研發(fā)、機(jī)理研究與性能優(yōu)化。
六、設(shè)備應(yīng)用價(jià)值
徠卡DM2700P偏光顯微鏡突破了普通光學(xué)顯微鏡僅能觀測(cè)表面形貌的局限，可直觀“透視”材料內(nèi)部應(yīng)力場(chǎng)與晶體結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)從表面觀測(cè)到內(nèi)部機(jī)理分析的升級(jí)。無(wú)論是基礎(chǔ)地質(zhì)科研、新材料機(jī)理研究，還是工業(yè)產(chǎn)品精密質(zhì)控，設(shè)備均可提供精準(zhǔn)、穩(wěn)定、可溯源的微觀檢測(cè)數(shù)據(jù)，有效助力企業(yè)優(yōu)化生產(chǎn)工藝、提升產(chǎn)品性能、嚴(yán)控產(chǎn)品缺陷，是材料科學(xué)、地球科學(xué)、精密制造領(lǐng)域的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。
七、DM2700P徠卡偏光顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
| | Leica DM2700 P |
| 尺寸和重量 | 取決于配置，約 18 kg 長(zhǎng)度：410 mm (帶燈箱)，寬度：331 mm，高度：505 mm (取決于鏡筒和配置) |
| 物鏡轉(zhuǎn)盤(pán) | 5 倍 (M25)，可調(diào)中 |
| 目鏡可見(jiàn)視場(chǎng) (視野值) | 視野值 22 / 20 mm |
| 入射和透射照明 | 高功率 LED |
| | 選配： |
| | 鹵素光源 12V / 100W |
| | Leica EL6000 熒光激發(fā)外部光源 |
| | 貢燈箱 (水銀) |
| 入射光軸 | 手動(dòng)，4 位轉(zhuǎn)盤(pán)，彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
| 入射光 | 偏振對(duì)比 |
| | 明場(chǎng) |
| | 微分干涉相襯 (DIC) |
| | 熒光 |
| | UC-3D 照明 |
| 透射光軸 | 手動(dòng)聚光鏡操作，帶彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
| 透射光 | 偏振對(duì)比 |
| | 正像檢查 |
| | 錐光偏振 |
| | 明場(chǎng) |
| | 相襯 |
| | 微分干涉相襯 (DIC) |
| | 暗場(chǎng) |
| 載物臺(tái) | 360° 旋轉(zhuǎn)偏振臺(tái)，帶游標(biāo)和電磁鎖 |
| | 360° 旋轉(zhuǎn)偏振臺(tái)，帶游標(biāo)、45° 卡位和電磁鎖 |
| | 載物臺(tái)支架，適用于第三方載物臺(tái) |
| | 75x50 掃描臺(tái) |
| | 手動(dòng) xy 載物臺(tái) |
| | |
| 調(diào)焦驅(qū)動(dòng)器 | 載物臺(tái)沖程 25-mm |
| | 載物臺(tái)總沖程 40-50 mm，取決于載物臺(tái)和聚光鏡類(lèi)型 |
| | 2 檔焦點(diǎn)驅(qū)動(dòng)器 (粗調(diào)／微調(diào))，1mm 刻度 |
| | 3 檔焦點(diǎn)驅(qū)動(dòng)器 (粗調(diào)／中調(diào)／微調(diào))，1 mm 和 4 mm 刻度，扭矩調(diào)節(jié)，以及可調(diào)頂部調(diào)焦限位 |
| | 按需可提供電動(dòng)版本 |
| 錐光 | 勃氏鏡反射塊 |
| | 勃氏鏡模塊 (A/B 模塊) |
| | 高級(jí)錐光學(xué)模塊 (手動(dòng)) |
| 檢偏鏡 | 固定檢偏鏡 |
| | 180° 旋轉(zhuǎn)檢偏鏡 |
| | 360° 旋轉(zhuǎn)檢偏鏡 |
| 起偏鏡 | 360° 起偏鏡，用于入射光 |
| | 360° 起偏鏡，用于透射光 |
| | 固定起偏鏡，帶 Lambda 臺(tái)板 |
| | 固定起偏鏡，具有 0°、45° 和 90° 位置 |
| | 90° 起偏鏡，帶旋轉(zhuǎn) Lambda 臺(tái)板 |
| | 安裝在固定器中的起偏鏡，用于透射光 |
| 補(bǔ)償器 | l，l/4，石英臺(tái)面 (0-4 級(jí))，傾斜補(bǔ)償器 |
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