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| ¥380000 |
| ≥5件 |
SKYRAY/天瑞儀器
生產廠家
EDX4500H
299
江蘇蘇州市
2025/6/13 10:56:27
產品簡介
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
| 應用領域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
使用X射線熒光光譜儀(XRF)測量金屬化膜電容器鍍層中的鋁(Al)和鋅(Zn)含量是一種快速、無損、高效且廣泛應用的技術。以下是其應用、原理、優(yōu)勢及注意事項的詳細說明:
1. 激發(fā):XRF儀發(fā)出高能初級X射線束,照射到樣品(電容器的金屬化膜)表面。
2. 電離:初級X射線使樣品表層(通常幾微米深度)元素的內層電子(如K層或L層)被激發(fā)彈出,形成空穴。
3. 馳豫發(fā)射:處于不穩(wěn)定狀態(tài)的原子外軌道電子向內躍遷填充空穴時,會釋放出特定能量的二次X射線(特征X射線熒光)。
4. 檢測分析:探測器接收這些發(fā)出的特征熒光X射線。不同元素具有特定的特征X射線能量(或波長):
o 鋁:Kα線約為1.486 keV(或Lα線約1.487 keV)。
o 鋅:Kα線約為8.638 keV。
5. 定量:通過測量Al和Zn特征峰線的強度(譜圖中峰的面積或高度),結合校準曲線(使用已知含量的標準樣品建立),即可計算出鍍層中鋁和鋅的質量百分比(重量%)或在鍍層厚度方向上的含量分布(通過深度剖析模式)。




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