A1525全聚焦相控陣超聲波探傷儀
產品特點：
通過INTROVIEW®軟件缺陷可視化
超聲測試數(shù)據的 3D 成像
B、C&D-Scan圖像與定量缺陷評估
多功能報告功能
輕便便攜式相控陣超聲檢測儀
使用多元合成孔徑聚焦技術的全聚焦方法
配合標準試塊實現(xiàn)半自動空間靈敏度校準
B、C&D-Scan成像能力
單通道探傷儀模式和相控陣模式下的常規(guī) A -Scan視圖
A1525全聚焦相控陣超聲波探傷儀特殊功能：
多元合成孔徑聚焦技術/多重反射疊加，實現(xiàn)準確的缺陷可視化和分析
配合標準試塊實現(xiàn)半自動靈敏度校準
2D 空間靈敏度調整以根據常見的標準發(fā)現(xiàn)并評價小缺陷，實現(xiàn)準確定量和定位
新型微楔傳感器技術——無楔塊多重反射信號且無偽影
規(guī)格參數(shù)：
| 相控陣數(shù)據處理技術： | 全對焦方式 |
| 陣元數(shù)/通道數(shù)： | 16 |
| 操作頻率： | 1,0; 1,8; 2,5; 4,0; 5,0; 7,5; 10,0 MHz |
| 動態(tài)范圍： | 100 dB |
| 顯示分辨率/類型： | 640 x 480 / TFT |
| 電池操作時間不小于： | 6 h |
| 尺寸： | 260 х 157 х 43 mm |
| 重量： | 0.8 kg |
| 工作溫度范圍： | 從 -10 到 +55 ℃ |
特殊功能：
多元合成孔徑聚焦技術/多重反射疊加，實現(xiàn)準確的缺陷可視化和分析
配合標準試塊實現(xiàn)半自動靈敏度校準
2D 空間靈敏度調整以根據常見的標準發(fā)現(xiàn)并評價小缺陷，實現(xiàn)準確定量和定位
新型微楔傳感器技術——無楔塊多重反射信號且無偽影
訂貨編號：LR-200575
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