高溫老化房是汽車電子行業(yè)用于可靠性篩選、早期失效剔除的關(guān)鍵設(shè)備，主要針對(duì)車載芯片、車身控制器、車載電源、BMS 模塊等產(chǎn)品，在高溫環(huán)境下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間通電帶載運(yùn)行，模擬車輛實(shí)際工況，提前暴露產(chǎn)品潛在缺陷，確保裝車后長(zhǎng)期穩(wěn)定可靠。

在測(cè)試過程中，高溫老化房會(huì)將環(huán)境溫度穩(wěn)定控制在 85℃ 區(qū)間，配合產(chǎn)品持續(xù)通電、帶載工作，讓芯片、控制器、電源模塊在接近極限工況下連續(xù)運(yùn)行數(shù)百至數(shù)千小時(shí)。通過模擬車輛在高溫暴曬、持續(xù)工作、頻繁啟停等真實(shí)場(chǎng)景，有效篩選出因材料、工藝、設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的早期失效產(chǎn)品，避免不良品流入主機(jī)廠裝車環(huán)節(jié)。

車載芯片在高溫加電老化中，可檢驗(yàn)晶圓體質(zhì)、封裝可靠性、高溫漂移與熱穩(wěn)定性；控制器重點(diǎn)測(cè)試 MCU 運(yùn)行穩(wěn)定性、接口通訊可靠性、散熱設(shè)計(jì)合理性，防止高溫死機(jī)、丟幀、邏輯異常；車載電源模塊則側(cè)重帶載效率、輸出紋波、過溫保護(hù)、長(zhǎng)時(shí)間滿載可靠性，避免上路后出現(xiàn)壓降、嘯叫、燒毀等問題。

整套系統(tǒng)采用多點(diǎn)測(cè)溫、獨(dú)立負(fù)載供電、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)監(jiān)控，可記錄溫度、電壓、電流、運(yùn)行狀態(tài)等關(guān)鍵參數(shù)，實(shí)現(xiàn)全程可追溯。配合智能控制系統(tǒng)，支持分段升溫、循環(huán)老化、故障自動(dòng)報(bào)警，滿足 AEC-Q100、ISO16750、GB/T 2423 等汽車電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。

通過高溫通電負(fù)載老化，能顯著提升車載電子產(chǎn)品合格率與長(zhǎng)期可靠性，降低主機(jī)廠售后返修率，是汽車電子企業(yè)量產(chǎn)前質(zhì)量保障環(huán)節(jié)。