三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品詳情
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱由高溫儲(chǔ)熱區(qū)、低溫儲(chǔ)冷區(qū)和樣品測(cè)試區(qū)三部分組成。通過(guò)氣動(dòng)閥門(mén)快速切換，使樣品區(qū)瞬間達(dá)到高溫或極低溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)溫度劇烈變化的沖擊測(cè)試。設(shè)備采用獨(dú)立控制箱體結(jié)構(gòu)，樣品在測(cè)試過(guò)程中保持靜止，避免物理位移造成的額外應(yīng)力，沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間可控制在10秒以內(nèi)，恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)。

用途
主要用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間經(jīng)高溫及極低溫連續(xù)變化環(huán)境下的耐受能力?？稍?秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度從+150℃到-65℃的快速切換，用于檢測(cè)產(chǎn)品因熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷，如開(kāi)裂、剝落、絕緣失效、電氣性能波動(dòng)等，提前暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷。

技術(shù)參數(shù)
溫度沖擊范圍：-65℃～+150℃；高溫室預(yù)熱上限：+200℃；低溫室預(yù)冷下限：-75℃；溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃；溫度偏差：≤±2.0℃；樣品區(qū)溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5分鐘；沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10秒；內(nèi)箱材質(zhì)為SUS304不銹鋼，外箱為冷軋鋼板噴塑；控制器采用7英寸彩色觸摸屏，支持100組程式，每組100段。

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
箱體分為上、中、下三層結(jié)構(gòu)：上層為高溫室，中層為測(cè)試室，下層為低溫室。高溫室內(nèi)置鎳鉻合金加熱器；低溫室內(nèi)置進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)及風(fēng)冷或水冷冷凝器。箱體采用聚氨酯發(fā)泡與高密度玻璃棉雙重保溫，厚度達(dá)100mm。測(cè)試室與高低溫室之間由氣動(dòng)風(fēng)門(mén)隔開(kāi)，底部加裝不銹鋼樣品架，承重30kg。觀察窗為三層真空鋼化玻璃，帶防凝露電熱膜。

滿足標(biāo)準(zhǔn)
符合GB/T 2423.22（環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)N：溫度變化）、IEC 60068-2-14（試驗(yàn)方法：溫度變化）、GJB 150.5A（裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)）、JESD22-A104（電子元器件溫度循環(huán)與沖擊標(biāo)準(zhǔn)）、MIL-STD-810H等國(guó)內(nèi)外主流測(cè)試規(guī)范。

應(yīng)用場(chǎng)景
典型場(chǎng)景包括：電子元器件（IC芯片、PCB板、連接器）的耐熱沖擊驗(yàn)證；汽車(chē)零部件（傳感器、控制模塊、車(chē)燈）的可靠性篩選；航空航天機(jī)載設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性評(píng)估；金屬、塑料、涂層材料的線性膨脹系數(shù)測(cè)試；新能源電池包在極寒極熱交替下的密封性與安全性考核。

適用行業(yè)
廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、通信設(shè)備、汽車(chē)電子、航天、第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、失效分析機(jī)構(gòu)、高分子材料制造、光伏組件、智能家居等領(lǐng)域。尤其適合研發(fā)階段加速壽命試驗(yàn)及生產(chǎn)線上批量產(chǎn)品的抽檢可靠性驗(yàn)證。