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當前位置:深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>分析儀器>> MOA-8000系列王子計測機器 OSI MOA 系列 分子取向計
產(chǎn)品型號MOA-8000系列
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2026-04-10 09:38:54瀏覽次數(shù):121次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)日本 NIKKISO 7150 聯(lián)氨在線監(jiān)測儀器
日本 NIKKISO 9792 型工業(yè)在線電導率分析儀
| 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
王子計測機器 OSI MOA 系列 分子取向計 王子計測機器 OSI MOA 系列 分子取向計
非接觸?非破壞測定:無需接觸樣品,避免對脆弱材料、薄膜的損傷,同時保持測試環(huán)境潔凈,確保樣品原貌。
全材質(zhì)適配:無論透明還是不透明材料均可進行測定,不受樣品外觀限制,覆蓋超廣泛的樣品類型。
全自動?高精度:實現(xiàn)全自動化測量流程,同時具備的測量精度,保證數(shù)據(jù)的準確性與重復性。
復數(shù)介電率測定:不僅可測分子取向,還能同步測定復數(shù)介電率(誘電率、誘電損耗率),深入分析材料電學特性。
高效檢測:針對延伸薄膜等材料,可精準解析異方性(ボーイング現(xiàn)象),為材料工藝優(yōu)化提供核心數(shù)據(jù)支撐。
| 核心能力 | 規(guī)格詳情 |
|---|---|
| 測量方式 | 非接觸?非破壞式 |
| 適配樣品外觀 | 透明 / 不透明均可 |
| 可測定項目 | 分子取向分布、復數(shù)誘電率(誘電率、誘電損耗率) |
| 核心功能 | 全自動測量、高精度數(shù)據(jù)解析 |
| 典型應用 | 延伸薄膜異方性解析、液晶聚合物 (LCP) 取向評價 |
フィルム、シート(薄膜、 sheets):延伸薄膜、工業(yè)薄膜、包裝薄膜等,解析其異方性與分子排列。
紙、不織布、プリプレグ(紙、無紡布、預浸料):紙品、紡織材料、復合材料預浸料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)評估。
発泡シート(發(fā)泡 sheet):發(fā)泡材料內(nèi)部分子分布、孔隙結(jié)構(gòu)分析。
セラミックス(陶瓷):陶瓷片、陶瓷基板的介電性能與取向檢測。
ゴムシート(橡膠 sheet):橡膠材料的分子取向與特性測試。
液晶ポリマー (LCP):液晶聚合物的取向評估,用于電子互連器件研發(fā)。
延伸薄膜異方性測定:解析工業(yè)薄膜在延伸過程中的分子異方性(ボーイング現(xiàn)象),優(yōu)化生產(chǎn)工藝。
液晶聚合物 (LCP) 取向評價:精準評估 LCP 材料的分子排列,保障電子材料高頻信號傳輸性能。
電子材料介電率測試:針對電子關(guān)聯(lián)材料,測定復數(shù)誘電率,適配 5G、高頻電路板材料研發(fā)。
材料研發(fā)與質(zhì)控:用于新材料開發(fā)階段的性能驗證,以及生產(chǎn)線上的批量質(zhì)量檢測。
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