otsuka大塚電子 高速減速測(cè)量裝置 RE-200

otsuka大塚電子 高速減速測(cè)量裝置 RE-200

 產(chǎn)品信息

特征

可從 0 nm 開(kāi)始進(jìn)行低（殘余）延遲測(cè)量

可以同時(shí)進(jìn)行高速延遲 (Re.) 測(cè)量和光軸檢測(cè)

（ 快的處理時(shí)間不到 0.1 秒）。

由于沒(méi)有驅(qū)動(dòng)單元，因此實(shí)現(xiàn)了高重復(fù)性。

需要設(shè)置的測(cè)量項(xiàng)目更少，使測(cè)量更容易

測(cè)量波長(zhǎng)：550nm 及其他多種波長(zhǎng)

可進(jìn)行 Rth 測(cè)量和 角測(cè)量

（需要可選的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)和傾斜夾具）

通過(guò)與拉伸試驗(yàn)機(jī)結(jié)合使用，可以同時(shí)評(píng)估薄膜的極化特性及其光彈性

（該系統(tǒng)可特殊訂購(gòu)）。

測(cè)量項(xiàng)目

延遲（ρ[度]，Re[nm]）

主軸方位角 (θ[deg])

橢圓率 (ε) / 方位角 (γ)

三維折射率（NxNyNz）

測(cè)量目標(biāo)

相差膜、偏光膜、橢圓膜、視角改善膜、各種功能膜

透明且各向異性的材料，例如樹(shù)脂和玻璃（玻璃的變形、扭曲等）

 原則

RE-200是什么？

RE-200 將由光子晶體元件（偏振元件）和 CCD 相機(jī)組成的偏振測(cè)量模塊與透射式偏振光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，可對(duì)相位差（延遲）和主軸方位角進(jìn)行高速、高精度的測(cè)量。由于偏振強(qiáng)度圖是通過(guò) CCD 相機(jī)的單次拍攝獲得的，因此無(wú)需旋轉(zhuǎn)偏振器，整個(gè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊，即使長(zhǎng)時(shí)間使用也能保持穩(wěn)定的性能。

通過(guò)擬合傅里葉變換來(lái)計(jì)算橢圓率ε和方位角γ。

 規(guī)格

規(guī)格

模型RE系列

樣本量

最小尺寸 10 x 10 毫米 - 最大尺寸 100 x 100 毫米

測(cè)量波長(zhǎng)550nm（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）*1

延遲測(cè)量范圍約0納米至約1微米

軸檢測(cè)重復(fù)性0.05°（3σ）*2

探測(cè)器偏振測(cè)量模塊

測(cè)量點(diǎn)直徑2.2毫米 x 2.2毫米

光源100瓦鹵素?zé)艋騆ED光源

身體和體重尺寸：300（寬）× 560（高）× 430（深）毫米，重量：約20公斤

選項(xiàng)

可進(jìn)行Rth測(cè)量和 角測(cè)量。*夾具本體（旋轉(zhuǎn)：180°，傾斜：±50°）

自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜夾具