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YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售PX 1943
非接觸霍爾效應(yīng)測試儀PX 1989
JCR15V150W ELC24V250W山田光學 350W鹵素燈光源 250W鹵素光源PX 5842
SC 系列NASGIKEN SC 晶圓微量金屬污染物分析設(shè)備PX 5884
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測量儀PX 4905
FPMVP-MVP900大型自動光學檢測系統(tǒng)PX 3895
LPA812-3美國 Logosol 晶圓預(yù)對準器PX 3457
批量晶圓拾取和放置PX 2929
Luminous NA-8000日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列PX 5577
內(nèi)應(yīng)力檢測儀PX 2245
iFocus晶圓檢測系統(tǒng)PX 9100
CA20型CT系統(tǒng)PX 2302
7101晶圓缺陷ESD檢測儀PX 3935
WD4000系列晶圓厚度粗糙度微納三維形貌測量儀器PX 6365
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 3156
芯片X‘ray檢測設(shè)備PX 2928
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案PX 7022
YP-150I備庫銷售-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
YP-150I現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視 檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 1943
FY-18LFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 1943
FY-18NFUNATECH 現(xiàn)貨 刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 1943
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨 FUNATECH 液晶表面檢查燈PX 1943
FY-18NFUNATECH現(xiàn)貨液晶表面檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH刮痕及灰塵表面目視檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH液晶表面檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH表面劃痕灰塵檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH多用途LED目視照明燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH半導(dǎo)體硅玻璃晶片檢查燈PX 1943
FY-18N現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍汽車玻璃劃痕檢查燈PX 1943
FY-18L備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 1943
FY-18備庫銷售-現(xiàn)貨-FUNATECH船越龍表面檢查燈PX 1943
YP-150I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
YP-250I備庫銷售-現(xiàn)貨-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
YP-250I日本YAMADA山田光學半導(dǎo)體高亮度鹵素檢查燈PX 1943
YP-150I日本YAMADA山田光學高亮度鹵素半導(dǎo)體檢查燈PX 1943
非接觸霍爾測試系統(tǒng)PX 1989
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
非接觸霍爾效應(yīng)測試儀
非接觸霍爾測試系統(tǒng)
山田光學 350W鹵素燈光源 250W鹵素光源
yamada山田光學40萬Lx鹵素冷光源瑕疵檢測燈
山田光學 外觀顯微觀察表面檢查燈 亮度可調(diào)
山田光學 8英寸晶圓拋光缺陷檢查燈<0.2μm
YAMADA KOGAKU山田光學 高功率檢查燈
山田光學半導(dǎo)體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈
-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售
美國Logosol晶圓預(yù)對準器
日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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