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Photonic lattice顯微鏡型應力雙折射儀 參考價：100000
PA-Micro 是日本 Photonic Lattice 公司推出的高精度顯微雙折射與應力測量系統(tǒng)，可搭載商用顯微鏡，實現 0–130 nm 相位差、光軸方位...
玻璃應力雙折檢測系統(tǒng) 參考價：1000
玻璃應力雙折檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，高精度的測量技術，高速而又的測...
應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：1000
應力雙折射測量系統(tǒng)WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發(fā)的產品，的測量技術使...
玻璃應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：1000
玻璃應力雙折射測量系統(tǒng)PA系列分布測量儀:理想的光學玻璃是各向同性的，但在退火過程中由于玻璃內外溫度不同，或者退火爐內各處溫度不等都會產生內應力。光學玻璃內應力...
應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：1000
應力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-L系列是Photonic lattice公司以其優(yōu)良世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，高精度的測量技術，高速而又精q的測量能力...
顯微鏡型相位差測量儀 參考價：1000
顯微鏡型相位差測量儀WPA-micro操作簡單，測量速度可以快到3秒，采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。測量數據是二維分布圖像，可以更...
雙折射測量儀PA-300-L 參考價：1000
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范...
應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：1000
應力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片...
紅外應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：1000
紅外應力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-...
雙折射測量儀PA-Micro 參考價：1000
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機...
雙折射測量儀PA-300-MT 參考價：1000
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
內應力測量儀PA-300-XL 參考價：1000
內應力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
玻璃內應力測量儀 參考價：1000
玻璃內應力測量儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米...
PHL應力雙折射測量儀 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術，開發(fā)的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，PHL應力...
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列 參考價：1000
PHL 應力雙折射檢測儀PA系列由日本Photonic lattice公司開發(fā)，具備高精度和快速測量的特點。 該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能...
Photonic lattice應力雙折射儀 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術，開發(fā)的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photon...
雙折射應力測試設備 參考價：1000
雙折射應力測試設備WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體制造技術開發(fā)的產品，的測量技術使...
光學應力分析儀 參考價：1000
光學應力分析儀WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙...
Photonic lattice雙折射分析儀 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術，開發(fā)的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photon...
Photonic lattice應力雙折射解決方案 參考價：1000
WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術，開發(fā)的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photo...
應力雙折射檢測系統(tǒng) 參考價：1000
應力雙折射檢測系統(tǒng)PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產品，高精度的測量技術，高速而又的測量...
膜厚測量儀 參考價：1000
膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置，這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T活用了本公司*的偏光Se...
應力雙折射儀-應用3D玻璃 參考價：1000
應力雙折射儀-應用3D玻璃對玻璃等低相位差的雙折射分布測量，在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。
偏振相機 參考價：1000
PI/WPI偏振相機能夠獲得實時的偏振信息，作為一個正常的圖像，并在高分辨率。它們被應用在許多領域，包括利用偏振特征識別暗物體，激光光束的實時偏振監(jiān)測等。除了P...
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