| 產(chǎn)地類別 |
進(jìn)口 |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 |
綜合 |
大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
日本大塚電子(Otsuka Electronics)的便攜式薄膜厚度測量儀——Smart Thickness Gauge SM-100 series。這是一款專為解決傳統(tǒng)膜厚測量痛點(diǎn)而設(shè)計(jì)的高精度、手持式設(shè)備。

產(chǎn)品核心亮點(diǎn)
這款智能膜厚計(jì)旨在解決“無法在生產(chǎn)現(xiàn)場即時(shí)測量"、“測量結(jié)果因人而異"以及“精度不佳"等常見問題。其主要特點(diǎn)如下:
便攜易用:整機(jī)重量僅 1.1公斤,輕巧便攜。內(nèi)置電池和觸摸屏,無需連接外部電腦,開機(jī)即用,操作直觀,無需專業(yè)培訓(xùn)。
高精度測量:采用分光干涉法,即使作為手持設(shè)備,也能實(shí)現(xiàn) 0.1微米 級別的高精度測量,且無需為每種材料制作校準(zhǔn)曲線。
非接觸與非破壞性:測量過程不會對樣品造成任何損傷,適用于各種脆弱或昂貴的薄膜材料。
適應(yīng)性強(qiáng):不僅能測量平面,通過更換不同探頭,還可以測量有形狀、不規(guī)則的樣品,甚至可以測量生產(chǎn)線上的大型固定樣品,無需切割取樣。
主要規(guī)格
以下是該系列產(chǎn)品的主要型號規(guī)格對比:
注:測量范圍和精度會因樣品材料的折射率等因素而有所變化。
測量對象與應(yīng)用場景
這款設(shè)備的應(yīng)用范圍非常廣泛,主要包括:
場景舉例
生產(chǎn)現(xiàn)場:可以直接拿到生產(chǎn)線,對正在加工的產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)時(shí)抽檢。
大型樣品:對于無法移動或切割的大型卷材、建材等,可以直接在現(xiàn)場進(jìn)行測量。
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室:快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
可選配件
為了適應(yīng)更多測量需求,該產(chǎn)品還提供多種可選探頭:
標(biāo)準(zhǔn)探頭:適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等。
筆式探頭 (Pen-type Probe):適用于狹窄空間或有復(fù)雜形狀的樣品。
非接觸式測量臺 (Non-contact Stage):適用于不能接觸的樣品,如濕膜、半導(dǎo)體晶圓(Wafer)等,可自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測量。
大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P,適用于平整表面的樣品,如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。