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掃描隧道顯微鏡/NAP-STM(Scanning Tunneling Microscope, STM)是一種基于量子隧穿效應的高分辨率表面分析儀器,能夠在原子尺...
光發(fā)射電子顯微鏡/PEEM是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器,能集原位觀測、超快及光電子成像于一體,即我們所稱的“長眼睛的超級XPS",能對薄膜以及二維材...
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