目錄:上海泊勛儀器科技有限公司>>光電光譜測(cè)試系統(tǒng)>>二次諧波測(cè)試系統(tǒng)>> SHG1030二次諧波測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2026-06-11 09:49:15瀏覽次數(shù)：145評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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? 產(chǎn)品概述
SHG1030 二次諧波測(cè)試系統(tǒng)是一套基于非線性光學(xué)效應(yīng)的顯微測(cè)試平臺(tái)，通過(guò)1030 nm激光激發(fā)樣品產(chǎn)生二次諧波（SHG）信號(hào)，實(shí)現(xiàn)材料晶體結(jié)構(gòu)、晶向分布及非線性光學(xué)特性的表征分析。
系統(tǒng)主要由1030 nm激發(fā)模塊、偏振控制模塊、正置顯微鏡模塊、信號(hào)探測(cè)模塊、二維電動(dòng)掃描模塊及數(shù)據(jù)采集分析軟件組成。集成顯微成像、高靈敏探測(cè)及自動(dòng)掃描功能，可實(shí)現(xiàn)SHG光譜測(cè)試、偏振SHG測(cè)試、SHG Mapping成像及功率依賴SHG測(cè)試，適用于二維材料、寬禁帶半導(dǎo)體及非線性光學(xué)晶體等領(lǐng)域研究。
? 核心優(yōu)勢(shì)
n 無(wú)需旋轉(zhuǎn)樣品：電動(dòng)旋轉(zhuǎn)波片自動(dòng)調(diào)節(jié)偏振狀態(tài)。
n 高靈敏信號(hào)檢測(cè)：PMT實(shí)現(xiàn)微弱SHG信號(hào)檢測(cè)。
n 自動(dòng)掃描成像：同步觸發(fā)快速獲取Mapping結(jié)果。
n 模塊化拓展：支持SHG、PL及Raman拓展。
? 關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)
產(chǎn)品型號(hào) | SHG1030 |
激發(fā)波長(zhǎng) | 1030 nm |
SHG探測(cè)波長(zhǎng) | 515 nm |
顯微鏡類型 | 正置顯微鏡 |
物鏡配置 | 10×、50× |
空間分辨率 | ≤1 μm |
電動(dòng)位移臺(tái) | 20 mm × 20 mm |
偏振控制 | 電動(dòng)旋轉(zhuǎn)波片 |
探測(cè)器 | PMT |
測(cè)試模式 | 偏振SHG光譜、SHG Mapping、功率依賴SHG測(cè)試 |
軟件功能 | 數(shù)據(jù)采集、圖像分析、結(jié)果導(dǎo)出 |
注：支持根據(jù)用戶需求擴(kuò)展不同激光波長(zhǎng)、探測(cè)器及測(cè)試模塊。
? 主要功能
n 偏振SHG測(cè)試與成像
通過(guò)改變激發(fā)光偏振方向，記錄SHG信號(hào)強(qiáng)度隨偏振角變化規(guī)律，用于材料晶向及晶體對(duì)稱性分析。
明場(chǎng)成像 SHG極化圖 SHG成像圖
n WS?樣品SHG測(cè)試
以單層WS?為例，系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)不同偏振條件下的SHG響應(yīng)測(cè)試及二維Mapping成像，并結(jié)合功率依賴測(cè)試驗(yàn)證材料的二次非線性光學(xué)特性。
光學(xué)明場(chǎng)照片 35°偏振 70°偏振
光學(xué)明場(chǎng)照片 SHG mapping
n SiC綜合表征測(cè)試（SHG / Raman / PL）
SHG1030支持?jǐn)U展Raman及PL測(cè)試模塊，實(shí)現(xiàn)材料多維光學(xué)特性的綜合分析。
SHG極化圖 PL譜 拉曼譜
SHG成像 PL成像 拉曼成像
n 功率依賴SHG測(cè)試
通過(guò)改變激發(fā)功率，研究樣品SHG信號(hào)的響應(yīng)規(guī)律，驗(yàn)證材料非線性光學(xué)特性。SHG強(qiáng)度與激發(fā)功率滿足平方關(guān)系（I_SHG ∝ P2），驗(yàn)證二次非線性光學(xué)過(guò)程。
不同激發(fā)光功率下SHG光譜 對(duì)數(shù)坐標(biāo)下SHG強(qiáng)度與功率的關(guān)系
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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