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當前位置:蘇州昀控電子科技有限公司>>技術文章>>電容薄膜真空計得原理
電容薄膜式真空計是用于量測真空度的常用儀器,其量程范圍可達25000Torr~10-5Torr左右,
其量程范圍大,測量精度高;可直接測量壓力,與氣體的組分沒有關系,靈活性高,
因此在半導體設備中應用非常廣泛,主要應用于刻蝕、PVD、CVD、爐管(Furnace)等真空設備中
,一般在腔體與控壓裝置之間的管道上方(CKD forline)垂直安裝。
電容薄膜式真空計由薄膜(上表面鍍有金屬)、電極、吸氣泵、傳感器等構成
吸氣泵主要用于將參考腔體中的氣體抽走,制造高真空的環(huán)境;
薄膜(一般為陶瓷薄膜,Al2O3,厚度約250μm)與電極形成電容,
當測量腔體的氣體從真空計下端進入測量腔體后,氣體會擠壓陶瓷薄膜,
從而改變薄膜與電極之間的距離,因其電容值的變化,轉(zhuǎn)化為電學信號,進而換算成壓力值,
從而測量出腔體中的真空度。
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